Ana Sayfa >>>

METALLERDE  MİKRO YAPI UYGULAMALARI İÇİN BİLGİSAYAR DESTEKLİ

GÖRÜNTÜ İŞLEME , ANALİZ  VE ÖLÇÜM SİSTEMİ

Kullanım Alanları :   Görüntü işleme Analiz ve Ölçüm Sistemi mikro görüntülerde malzemenin genel dağılım içersindeki yüzdelerini  ve hesaplamak amacıyla kullanılan araştırma ve geliştirmeye yönelik bir yazılımdır.Mikroskoplarla uyumlu çalışan dijital kamera vasıtasıyla görüntüler bilgisayar ortamına aktarılır. Görüntü üzerinde analizler yapılır ve kayıt altına alınır.

Kullanım Yerleri : Dökümhane laboratuarları, Alimunyum, Bakır, Pirinç, Haddehane, Isıl işlem tesisleri , Boru vs..  

Yazılım Özellikleri

  • Renkli ve Gri Seviyeli Görüntü İşleme Teknikleri
  • Metalurjik analiz sınıfları 
  • Tane büyüklüğü ölçümü (Grain size)
  • Nesne sınıflama
  • Faz analizinin renk dağılımı ve gri dağılıma göre yapılabilmesi
  • Renk ayrıştırma ve renk seçimine göre bölgeleme yapabilme
  • Görüntüleri birbirinden ayırma
  • Görüntü karşılaştırma
  • Boyut ölçümünü mouse hareketi ile otomatik sonuç verebilme 
  • Yüzey işleme ve süzgeçler
  • Sınır belirleme ve geliştirme
  • Alçak ve yüksek geçiren süzgeçler
  • Medyan, erozyon, dilatasyon, 
  • Konvolüsyon, kontrast ,
  • Resim çevirme, kenar ayırma
  • Morfolojik Analiz
  • Eşikleme, S/B ayırma
  • İskelet yapı
  • Etiketleme, sayma, ayırma, daire eşlenik, 
  • açma-kapama
  • Bölgeleme
  • Kalibrasyon değerlerini otomatik verme
  • Ölçüm İşlemleri
  • Otomatik nesne ayırma ve istatistik değerlendirme
  • Alan ve çizgi histogram
  • Sayısal analiz
  • Ayrıştırma ve seçim
  • Nesne sınıflama, histogram, ayırma
  • Makroskopik çalışmalara uygun parçaların ölçümü 
 Teknik Özellikler

 

  • Faz dağılımı (Ferrit/Perlit) oranını hesaplatma (ASTM E 562 , ASTM E 1245)
  • Porozite (ASTM B – 276)
  • Kaplama Kalınlığı ölçümü (ASTM B487)
  • Dekarbürüzasyon derinliği (ASTM 1077)
  • Grain Size (ASTM E 112)
  • Inclusion (Kalıntı ölçümü) (ASTM E – 45 – ASTM – 1245)
  • Nodülarity Hesaplatma (ASTM A 247)
  • Graphite Flake Hesabı (ASTM A 247-67)
  • Raporlama ve Arşivleme
  • 1000 mikron boyundaki mikroskop cam ile hassas kalibrasyon
  • Boy, açı, Çevre ve üç noktadan radüs ölçümü
  • Tanecik sayımı otomatik